AD4080易于驱动可降低信号链复杂性和功耗,同时提高通道密度和选择配套元件的灵活性。该ADC的输入结构设计用于最大限度地降低输入相关信号电流,减少转换器引起的稳定伪影。连续采集架构支持在整个转换周期内建立稳定,与其他高速数据转换器相比,降低了ADC驱动器稳定和带宽要求。
ADI AD4080集成了多个可简化数据转换器集成的元件:低漂移基准缓冲器、用于开发ADC内核和数字接口电源轨的低压差 (LDO) 稳压器,以及可显著降低数字主机负载的16K结果数据先入先出 (FIFO)。此外,封装中集成了关键电源和基准去耦电容器,以确保最佳性能,简化印刷电路板 (PCB) 布局并减少整体解决方案占位面积。
特性
- 高性能
- 吞吐量为40MSPS,转换延迟为46.25ns
- INL:±4ppm(典型值),±8ppm(最大值)
- SNR/THD
- fIN = 1kHz时为93.6dB(典型值)/-110dB(典型值)
- f IN = 1MHz时为93.5dB(典型值)/-104dB(典型值)
- -167.6dBFS/Hz的噪声频谱密度
- 20位分辨率,无失码
- 低功率,79.3mW时典型值为40MSPS,正弦波输入-0.5dBFS
- 易于驱动,全差分输入
- 差分输入范围:6Vp-p
- 连续信号采集
- 线性化,5μA/MSPS输入电流
- 集成式低漂移基准缓冲器和去耦
- 集成VCM生成
- 数字特性和数据接口
- 来自FIFO的转换结果,16K采样深度
- 数字平均滤波器,抽取高达210
- SPI配置
- 可配置数据接口
- 单通道、DDR、串行LVDS、每通道800MBPS
- 双通道、DDR、串行LVDS、每通道400MBPS
- 单/四通道SPI数据接口
- 封装
- 49焊球、5mm x 5mm CSP_BGA、0.65mm脚距
- 集成电源去耦电容器
- 工作温度范围:-40°C至+85°C
应用
- 数字成像
- 细胞分析
- 光谱
- 自动化测试设备
- 高速数据采集
- 数字控制环路,环路中的硬件
- 电能质量分析
- 源测量单元
- 电子和X射线显微镜
- 雷达液位测量
- 无损测试
- 预测性维护和结构健康
功能框图
发布日期: 2024-07-23
| 更新日期: 2025-12-02

