Hirose Electric F6 MS检查探针

Hirose F6系列MS检查探针设计用于改善检查过程并降低由于检查错误而导致的成本。F6 MS探针在X、Y和Z方向均具有独特的浮动功能,可与板上安装的开关自对准。检查探针可耐受中心偏移,而不会因电缆运动而使探针的尖端偏离中心。因凸缘孔口固定到测试夹具上,所以顶部没有移动部件。Hirose F6系列MS检查探针的测试故障率约为100ppm,非常适合用于任何射频应用。

特性

  • 采用独特的浮动结构,最高可达6GHz,可耐受中心偏移
  • 凸缘孔口固定到测试夹具上,因此没有移动部件

应用

  • 射频应用
    • 智能手机
    • 平板电脑
    • 智能眼镜
    • 智能手表

视频

发布日期: 2019-10-24 | 更新日期: 2023-04-11