STMicroelectronics SGT G-HEMT™ E-Mode PowerGaN晶体管

STMicroelectronics SGT G-HEMT™ E-Mode PowerGaN晶体管是一款高性能增强模式(常关型)GaN设备,旨在为要求苛刻的功率转换应用提供极快的开关速度、低导通损耗和大功率密度。这些晶体管利用氮化镓的宽禁带优势,实现了极低的电容、最小栅极电荷和零反向恢复电荷,从而实现了比传统硅功率开关更优异的效率。

STMicroelectronics SGT晶体管将先进的G‑HEMT结构与强大的封装技术相结合,以支持大电流能力和超快开关行为,从而提高热性能并实现紧凑的系统设计。主要特性包括用于优化栅极的开尔文源极焊盘、 大功率管理能力以及强大的ESD鲁棒性,因此,这些晶体管非常适合用于AC‐DC和DC‐DC转换器、太阳能逆变器、 工业电源和其他高频、高效系统。总体而言,ST的E‑Mode PowerGaN产品组合为设计人员 提供了一个强大的平台,用于构建具有更高效率、更小尺寸和更强性能的下一代功率电子设备。

特性

  • 表面贴装增强模式常闭晶体管
  • 非常高的开关速度
  • 大功率管理能力
  • 极低电容
  • 零反向恢复电荷
  • 单通道配置
  • 用于最佳栅极驱动的开尔文源焊盘(选择封装样式)
  • ESD保护
  • 符合RoHS标准

应用

  • 交流/直流转换器
  • DC-DC转换器
  • 太阳能逆变器
  • 平板电脑、笔记本电脑和功能一体机适配器
  • USB Type-C® PD适配器和快速充电器

规范

  • 1.8V或2.5V栅极源阈值电压选项
  • 650V或700V漏极/源极击穿电压选项
  • 6A至29A漏极连续电流范围
  • 65mΩ至350mΩ漏极/源极电阻范围
  • 47W至305W耗散功率范围
  • 1.5nC至8.5nC栅极电荷范围
  • 上升时间范围:3.5 ns至9 ns
  • 下降时间范围:4 ns至9 ns
  • 1.2ns至7ns典型关闭延迟时间范围
  • 0.9ns至10ns典型接通延迟时间范围
  • 工作温度范围:-55 °C至+150 °C
  • DPAK-3、PowerFLAT-4、PowerFLAT-8和TO-LL-11封装选项
View Results ( 8 ) Page
物料编号 数据表 Id-连续漏极电流 Pd-功率耗散 Qg-栅极电荷 Rds On-漏源导通电阻
SGT070R70HTO SGT070R70HTO 数据表 26 A 231 W 8.5 nC 70 mOhms
SGT350R70GTK SGT350R70GTK 数据表 6 A 47 W 1.5 nC 350 mOhms
SGT080R70ILB SGT080R70ILB 数据表 29 A 188 W 6.2 nC 80 mOhms
SGT65R65AL SGT65R65AL 数据表 25 A 305 W 5.4 nC 65 mOhms
SGT105R70ILB SGT105R70ILB 数据表 21.7 A 158 W 4.8 nC 105 mOhms
SGT140R70ILB SGT140R70ILB 数据表 17 A 113 W 3.5 nC 140 mOhms
SGT190R70ILB SGT190R70ILB 数据表 11.5 A 83 W 2.8 nC 190 mOhms
SGT240R70ILB SGT240R70ILB 数据表 10 A 76 W 2 nC 240 mOhms
发布日期: 2026-02-18 | 更新日期: 2026-02-19